科技日報北京5月26日電 （記者劉霞）英國和德國的科學家團隊發現，當二維電子係統暴露於太赫茲波中時，會產生一種新物理效應——“平麵內光電效應”。這一最新發現有望催生出更靈敏的太赫茲探測器，可廣泛應用於安全、醫學
、通信等領域。相關研究近日發表於美國《科學進展》雜誌。

研究負責人、英國劍橋大學卡文迪什實驗室半導體物理組負責人大衛·裏奇教授解釋道：“太赫茲波是介於微波和紅外輻射之間的一種電磁輻射，但我們目前缺乏廉價、高效

、易用的太赫茲輻射源和探測器，阻礙了太赫茲技術的廣泛應用。”

裏奇表示，如果上述問題得到解決
，太赫茲輻射將在安全、材料科學、通信和醫學領域“大顯身手”。如太赫茲波可對肉眼看不到的癌組織成像，也可用於新一代安全快速的機場掃描儀，並實現超越最先進水平的更快無線通信等。

20多duo年nian來lai，裏li奇qi團tuan隊dui一yi直zhi在zai研yan究jiu開kai發fa功gong能neng性xing太tai赫he茲zi器qi件jian。在zai最zui新xin研yan究jiu中zhong，他ta們men在zai測ce量liang一yi款kuan新xin型xing太tai赫he茲zi探tan測ce器qi的de性xing能neng時shi，發fa現xian它ta顯xian示shi的de信xin號hao比bi理li論lun上shang預yu期qi的de強qiang得de多duo。

研(yan)究(jiu)人(ren)員(yuan)解(jie)釋(shi)稱(cheng)，造(zao)成(cheng)這(zhe)一(yi)現(xian)象(xiang)的(de)原(yuan)因(yin)在(zai)於(yu)光(guang)與(yu)物(wu)質(zhi)相(xiang)互(hu)作(zuo)用(yong)的(de)方(fang)式(shi)。在(zai)高(gao)頻(pin)率(lv)下(xia)
，物(wu)質(zhi)以(yi)單(dan)粒(li)子(zi)光(guang)子(zi)的(de)形(xing)式(shi)吸(xi)收(shou)光(guang)，這(zhe)一(yi)點(dian)首(shou)先(xian)由(you)愛(ai)因(yin)斯(si)坦(tan)提(ti)出(chu)
，形(xing)成(cheng)了(le)量(liang)子(zi)力(li)學(xue)的(de)基(ji)礎(chu)，並(bing)解(jie)釋(shi)了(le)光(guang)電(dian)效(xiao)應(ying)。此(ci)前(qian)眾(zhong)所(suo)周(zhou)知(zhi)的(de)光(guang)電(dian)效(xiao)應(ying)涉(she)及(ji)入(ru)射(she)光(guang)子(zi)從(cong)導(dao)電(dian)材(cai)料(liao)（金屬或半導體）釋放電子。在三維材料內，電子可在紫外線或X射線範圍內被光子射入真空，或在中紅外到可見光範圍內釋放到電介質中。

但(dan)這(zhe)項(xiang)研(yan)究(jiu)的(de)新(xin)穎(ying)之(zhi)處(chu)在(zai)於(yu)，科(ke)學(xue)家(jia)們(men)在(zai)高(gao)導(dao)電(dian)的(de)二(er)維(wei)電(dian)子(zi)氣(qi)體(ti)內(nei)，發(fa)現(xian)了(le)太(tai)赫(he)茲(zi)範(fan)圍(wei)內(nei)
，類(lei)似(si)於(yu)光(guang)電(dian)效(xiao)應(ying)的(de)量(liang)子(zi)光(guang)激(ji)發(fa)過(guo)程(cheng)，他(ta)們(men)將(jiang)這(zhe)種(zhong)現(xian)象(xiang)命(ming)名(ming)為(wei)“平麵內光電效應”。

研究負責人、劍橋大學三一學院瓦迪斯拉夫·米查洛博士表示，由“平麵內光電效應”入(ru)射(she)的(de)太(tai)赫(he)茲(zi)輻(fu)射(she)產(chan)生(sheng)的(de)光(guang)響(xiang)應(ying)幅(fu)度(du)遠(yuan)遠(yuan)高(gao)於(yu)迄(qi)今(jin)已(yi)知(zhi)會(hui)產(chan)生(sheng)太(tai)赫(he)茲(zi)光(guang)響(xiang)應(ying)的(de)其(qi)他(ta)機(ji)製(zhi)
，因(yin)此(ci)，這(zhe)種(zhong)效(xiao)應(ying)將(jiang)使(shi)製(zhi)造(zao)具(ju)有(you)更(geng)高(gao)靈(ling)敏(min)度(du)的(de)太(tai)赫(he)茲(zi)探(tan)測(ce)器(qi)成(cheng)為(wei)可(ke)能(neng)。